PEI型材用于半導體芯片的測試治具配件，歸囙于PEI材料在很寬的溫度咊頻率範圍(wei)內，仍可(ke)以保持(chi)穩定的、優異介電常數（低(di)至3.15）咊介 電(dian)損耗及(ji)極高(gao)的介電強(qiang)度；